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您的位置：首頁(yè) - 產(chǎn)品中心 - 儀表，電子設(shè)備 - otsukael - FE-300otsukael膜厚監(jiān)測(cè)儀 膜厚測(cè)量?jī)x 紫外光譜儀
otsukael膜厚監(jiān)測(cè)儀 膜厚測(cè)量?jī)xFE-300的介紹這是一款小型、低成本的膜厚測(cè)量?jī)x，可通過(guò)高精度光學(xué)干涉測(cè)量法實(shí)現(xiàn)易于操作的膜厚測(cè)量。我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備存儲(chǔ)在主機(jī)中，實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。
產(chǎn)品型號(hào)：FE-300廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商更新時(shí)間：2023-04-14訪 問(wèn) 量：1604
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otsukael膜厚監(jiān)測(cè)儀 膜厚測(cè)量?jī)xFE-300的介紹
otsukael膜厚監(jiān)測(cè)儀 膜厚測(cè)量?jī)xFE-300的介紹
這是一款小型、低成本的膜厚測(cè)量?jī)x，可通過(guò)高精度光學(xué)干涉測(cè)量法實(shí)現(xiàn)易于操作的膜厚測(cè)量。
我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備存儲(chǔ)在主機(jī)中，實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集
支持從薄到厚的廣泛薄膜厚度
使用反射光譜的膜厚度分析
緊湊、低成本、非接觸、無(wú)損、高精度測(cè)量
簡(jiǎn)單的條件設(shè)置和測(cè)量操作！任何人都可以輕松測(cè)量薄膜厚度
使用峰谷法、頻率分析法、非線性最小二乘法、化法等，可以進(jìn)行廣泛的膜厚測(cè)量。
光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）可以通過(guò)非線性最小二乘法的膜厚分析算法進(jìn)行。
絕對(duì)反射率測(cè)量
薄膜厚度分析（10層）
光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）
功能性薄膜、塑料
透明導(dǎo)電薄膜（ITO、銀納米線）、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、膠粘劑、粘合劑、保護(hù)膜、hard Coat、抗指紋代理等
半導(dǎo)體
化合物半導(dǎo)體、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、Sapphire等。
表面處理
DLC涂層、防銹劑、防霧劑等。
光學(xué)材料
濾光片、增透膜等
FPD
LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有機(jī)薄膜、密封膠）等
其他
HDD、磁帶、建材等
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