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更新時間：2025-12-16 
瀏覽次數(shù)：42山田光學（YAMADA）推出的YP-250I和YP-150I高亮度鹵素燈光源裝置是專為半導體及精密制造行業(yè)設計的表面缺陷檢測設備。這兩款產品憑借其出色的光學性能和可靠性，已成為晶圓、液晶基板等精密材料表面質量控制的行業(yè)標準工具。一、核心用途：精密表面缺陷檢測YP系列鹵素燈的核心用途是為宏觀目視檢查提供高強度照明，幫助檢測人員發(fā)現(xiàn)硅晶片、玻璃基板等精密材料表面的微觀缺陷。這些缺陷包括：劃痕與異物顆粒：可檢測小于0.2μm的微小瑕疵拋光不均勻：識別CMP（化學機械拋光）工藝后的表面平整度問題霧度與滑移：發(fā)現(xiàn)液晶基板透光性缺陷及晶體滑移線該系列通過提供超過400,000勒克斯（Lx）的超高照度，使這些在普通照明下難以察覺的缺陷清晰可見。二、技術特點與優(yōu)勢1. 超高亮度照明系統(tǒng)照度突破：在照射距離140mm（YP-150I）或220mm（YP-250I）處，照度可達400,000Lx以上高色溫：鹵素燈色溫約3400K，光線穩(wěn)定銳利，還原真實缺陷形貌均勻照明：光學設計確保照明區(qū)域內照度不均性極小，避免漏檢誤判
2. 熱管理創(chuàng)新采用 冷鏡技術 將熱量影響降低至傳統(tǒng)鋁鏡的1/3，有效保護熱敏感樣品（如光刻膠涂層晶圓），同時提升檢測人員操作舒適度。3. 靈活的操作設計兩段式切換：一鍵快速切換高低照度模式，適應不同缺陷類型的觀察需求可選冷卻方式：YP-250I提供螺旋槳風扇式或管道風扇式兩種冷卻方案，可根據(jù)潔凈室環(huán)境要求靈活配置三、典型應用場景1. 半導體制造全流程質量控制晶圓表面缺陷檢測：在切割、封裝前進行最終目視檢查，確保成品率光刻工藝檢查：檢測曝光后圖案完整性及表面污染CMP后檢查：識別拋光液殘留、劃痕等常見缺陷研發(fā)實驗室：為新材料、新工藝開發(fā)提供高精度照明支持2. 液晶與顯示面板行業(yè)用于檢測液晶基板的表面劃痕、霧度不均、顆粒污染等問題，確保顯示效果。3. 精密光學元件檢測適用于玻璃透鏡、光學窗口等透明材料的表面質量評估
四、型號對比與選型建議
| 參數(shù) | YP-150I | YP-250I |
| ---------- | ------------ | ----------- |
| **照明范圍** | φ30mm | φ60mm |
| **適用晶圓尺寸** | 6英寸及以下 | 8英寸及以下 |
| **典型應用** | 小尺寸樣品、局部精細檢測 | 大尺寸樣品、全表面掃描 |
| **冷卻方式** | 強制風冷 | 螺旋槳或管道風扇可選 |
| **重量** | 約1.85kg | 約2.7kg |
選型建議：YP-150I：適合實驗室研發(fā)、小批量6英寸晶圓檢測或對局部區(qū)域進行高倍率觀察的場景YP-250I：適合8英寸晶圓量產線、需要更大照明范圍的全表面快速檢測場景五、在精密制造業(yè)中的核心價值提升檢測效率：超高照度使缺陷識別速度提升3-5倍，減少人員疲勞降低漏檢率：可檢測0.2μm級缺陷，顯著改善質量控制水平兼容潔凈環(huán)境：管道風扇型可外接排風系統(tǒng)，避免氣流擾動潔凈室環(huán)境投資回報明確：通過提高產品良率，通常在3-6個月內即可收回設備投資結語山田光學YP-250I和YP-150I高亮度鹵素燈憑借其光學性能、人性化設計和可靠品質，已成為半導體、液晶等精密制造領域重要的檢測工具。隨著制程技術向更優(yōu)良節(jié)點發(fā)展，對表面缺陷檢測的要求愈發(fā)嚴苛，YP系列通過持續(xù)的技術迭代，將繼續(xù)為微觀結構觀察和質量控制提供高質量的照明解決方案
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