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更新時(shí)間：2023-08-22 
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只需觸摸手持式探頭即可測(cè)量電阻
在電阻率和方塊電阻測(cè)量模式之間輕松切換
通過 JOG 旋鈕進(jìn)行簡(jiǎn)單的測(cè)量條件設(shè)置
可更換連接器連接的電阻測(cè)量探頭以支持寬范圍的電阻（電阻探頭：最多可使用 2 + PN 確定探頭）
半導(dǎo)體及太陽(yáng)能電池材料（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬、ITO等）
化合物半導(dǎo)體相關(guān)（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
其他（*請(qǐng)聯(lián)系我們）
無論樣品的大小和形狀如何，都可以進(jìn)行測(cè)量（但是，直徑大于 20 mm 且平坦表面暴露的樣品）
[電阻率] 1m 至 200Ω cm
（*所有探頭類型的總范圍/厚度為 500um 時(shí)）
[表面電阻] 10m 至 3kΩ/sq
（*所有探頭類型的總范圍）
*有關(guān)每種探頭類型的測(cè)量范圍，請(qǐng)參閱以下內(nèi)容。
(1) 低：0.01～0.5Ω/□(0.001～0.05Ω·cm)
(2)中：0.5～10Ω/□(0.05～0.5Ω·cm)
(3)高：10～1,000Ω/□(0.5 ) ~60Ω·cm)
(4) S-High: 1,000~3,000Ω/□ (60~200Ω·cm)
(5) 太陽(yáng)能晶圓: 5~500Ω/□ (0.2~15Ω·cm)
機(jī)身：W255×D275×H95mm，4kg
探頭部分：20mmΦ×80mm
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